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Flash器件高低溫擦寫性能試驗(yàn)箱的測試方法
2024-11-04
為了研究FLASH芯片的壞區(qū)增長與擦寫次數(shù)為怎樣的關(guān)系，目前尚未有實(shí)際實(shí)物參照數(shù)據(jù)。下面使用Flash器件高低溫擦寫性能試驗(yàn)箱，通過FLASH芯片壽命試驗(yàn)，在地…
高低溫試驗(yàn)箱
NAND Flash高低溫篩選試驗(yàn)機(jī)在Flash的溫變規(guī)律研究
2024-11-04
為了研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機(jī)理和溫變規(guī)律，評估其空間應(yīng)用的可行性，為Flash器件在空間型號任務(wù)的應(yīng)用提供試驗(yàn)依據(jù)和改進(jìn)建議。在溫變規(guī)律研…
高低溫試驗(yàn)箱
Flash高低溫試驗(yàn)箱
2024-11-04
Flash高低溫試驗(yàn)箱可用于研究Flash存儲器在不同溫度下的性能變化的機(jī)理和溫變規(guī)律，評估其空間應(yīng)用的可行性，為Flash器件在空間型號任務(wù)的應(yīng)用提供試驗(yàn)依據(jù)…
高低溫試驗(yàn)箱
整車環(huán)境艙含陽光模擬系統(tǒng)及迎面風(fēng)冷卻系統(tǒng)的構(gòu)成
2024-11-02
整車環(huán)境艙含陽光模擬系統(tǒng)及迎面風(fēng)冷卻系統(tǒng)，用于整車開發(fā)測試的環(huán)境模擬，包括溫度、濕度、光照、迎面冷卻風(fēng)速的模擬。整個(gè)系統(tǒng)以陽光模擬系統(tǒng)和迎面冷風(fēng)系統(tǒng)為主，結(jié)合整…
整車環(huán)境艙含陽光模擬系統(tǒng)及迎面風(fēng)冷卻系統(tǒng)有什么用
2024-11-02
整車環(huán)境艙含陽光模擬系統(tǒng)及迎面風(fēng)冷卻系統(tǒng)主要用于汽車行業(yè)的環(huán)境試驗(yàn)和研發(fā)，能夠模擬車輛在各種天氣環(huán)境和路況下的表現(xiàn)和耐久性。具體來說，它們可以用于以下方面：1.…
整車太陽輻照模擬系統(tǒng)（高輻照）
2024-11-01
一、產(chǎn)品簡介：整車太陽輻照模擬系統(tǒng)（高輻照）是一種測試設(shè)備，用于模擬太陽輻照下汽車（車頂、車窗等）的溫度和氣流分布情況，以評估汽車在高溫環(huán)境下的性能和可靠性。二…
整車太陽輻照模擬系統(tǒng)（高輻照）的試驗(yàn)要求
2024-11-01
高輻照整車太陽輻照模擬系統(tǒng)可以模擬在1000-1200W/m2左右的輻照強(qiáng)度，GB/T 2423.24-1995標(biāo)準(zhǔn)中，汽車陽光輻照試驗(yàn)是其中的一個(gè)測試方法，用…
EMMC高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱的技術(shù)方案
2024-11-01
EMMC高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱可針對NAND Flash、UFS芯片進(jìn)行高速、高低溫度范圍的全功能動態(tài)老化測試。針對集成NAND和Controller的模組芯片（例如…
高低溫試驗(yàn)箱
eMMC存儲芯片高低溫老化箱的測試方法
2024-11-01
eMMC存儲芯片高低溫老化箱可對eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒體卡）、SSD（Solid State Disk，固態(tài)硬盤…
高低溫試驗(yàn)箱
eMMC高低溫試驗(yàn)箱
2024-11-01
eMMC高低溫試驗(yàn)箱是一款專門針對eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲芯片進(jìn)行高低溫老化的設(shè)備。設(shè)備采用可程式系統(tǒng)控制，能夠同時(shí)支持大批量芯片同步老化測試，腔體…
高低溫試驗(yàn)箱
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