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光電器件高加速濕熱試驗箱的試驗技術(shù)因素

文章出處 : 技術(shù)知識 文章編輯 : 環(huán)儀儀器 閱讀量 : 發(fā)表時間 : 2024-10-22

光電器件在使用光電器件高加速濕熱試驗箱做測試過程中,由于高溫高濕的原因,會受到不同的失效情況,為了加速光電器件的吸濕速率以及縮短試驗時間,可使用加速試驗設(shè)備(光電器件高加速濕熱試驗箱)來進(jìn)行相關(guān)試驗,也就所謂的(退化失效期、損耗期)試驗。下面,我們來了解一下試驗過程中的一些技術(shù)因素。

高加速濕熱試驗技術(shù)因素:

試驗設(shè)備:環(huán)儀儀器 光電器件高加速濕熱試驗箱

光電器件高加速濕熱試驗箱的試驗技術(shù)因素(圖1)

影響因素:

1.濕氣所引起的故障原因:水汽滲入、聚合物材料解聚、聚合物結(jié)合能力下降、腐蝕、空洞、線焊點(diǎn)脫開、引線間漏電、芯片與芯片粘片層脫開、焊盤腐蝕、金屬化或引線間短路。

2.水汽對電子封裝可靠性的影響:腐蝕失效、分層和開裂、改變塑封材料的性質(zhì)。

3.故障模式:起泡(Blister)、斷裂(Crack)、止焊漆剝離(SR de-lamination)。

光電器件高加速濕熱試驗箱的試驗技術(shù)因素(圖2)

4.腐蝕失效與IC:腐蝕失效(水汽、偏壓、雜質(zhì)離子)會造成IC的鋁線發(fā)生電化學(xué)腐蝕,而導(dǎo)致鋁線開路以及遷移生長。

5.加速鋁腐蝕的因素:

①樹脂材料與芯片框架接口之間連接不夠好(由于各種材料之間存在膨脹率的差異)

②封裝時,封裝材料摻有雜質(zhì)或者雜質(zhì)離子的污染(由于雜質(zhì)離子的出現(xiàn))

③非活性塑封膜中所使用的高濃度磷

④非活性塑封膜中存在的缺陷

光電器件高加速濕熱試驗箱的試驗技術(shù)因素(圖3)

討論產(chǎn)品壽命時,一般采用[θ10℃法則]的表達(dá)方式,簡單的說明可以表達(dá)為[10℃規(guī)則],當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升10℃時,產(chǎn)品壽命就會減少一半;當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20℃時,產(chǎn)品壽命就會減少到四分之一。這種規(guī)則可以說明溫度是如何影響產(chǎn)品壽命(失效)的,相反的產(chǎn)品的可靠度試驗時,也可以利用升高環(huán)境溫度來加速失效現(xiàn)象發(fā)生,進(jìn)行各種加速壽命老化試驗。


以上就是光電器件高加速濕熱試驗箱的試驗技術(shù)影響,如有疑問,可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。

文章標(biāo)簽 : 高加速溫濕度試驗箱

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