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國家標準:GB/T 10233-2016 低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備基本試驗方法

文章出處 : 相關(guān)標準 文章編輯 : 環(huán)儀儀器 閱讀量 : 999 發(fā)表時間 : 2025-02-22

GB/T 10233-2016 是中國國家標準,標題為《低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備基本試驗方法》(Low-voltage switchgear and controlgear assemblies - Methods for basic testing under normal and fault conditions)。

該標準規(guī)定了低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備在正常工作和故障條件下進行基本試驗的方法,用于評估其性能和可靠性。


一、范圍:
本標準規(guī)定了低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備(以下簡稱成套設(shè)備)型式試驗和出廠試驗的基本方法。

本標準適用于GB 7251.1-2013和GB/T 3797所規(guī)定的試驗項目。


二、試驗項目:
耐腐蝕試驗、耐紫外線(UV)輻射試驗、碰撞試驗、高低溫試驗、濕熱試驗、高低溫沖擊試驗、等。


三、試驗設(shè)備:
恒溫恒濕試驗箱、鹽霧試驗箱、氙燈老化試驗箱、高低溫沖擊試驗箱、碰撞試驗臺等。


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《GB/T 10233-2016 低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備基本試驗方法》標準(圖1)


五、試驗程序(部分):

高、低溫沖擊試驗


高﹑低溫沖擊試驗的目的是考核控制單元的儲存、運輸及使用過程中受空氣溫度迅速變化的能力,同時考核印制板組裝件的焊接質(zhì)量及對早期失效的元、器件進行篩選。


試驗時設(shè)備應(yīng)在沒有包裝及不工作狀態(tài)下進行。


設(shè)備先置于溫度為TL,的低溫箱中存放到規(guī)定時間t1,然后取出置于試驗室內(nèi)的環(huán)境溫度下保持時間為t2,再放入到溫度為TH的高溫箱中存放到規(guī)定時間t3,再取出置于試驗室環(huán)境溫度下保持時間t2。此即為一次循環(huán)(見圖4)。循環(huán)次數(shù)應(yīng)不小于5次。

《GB/T 10233-2016 低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備基本試驗方法》標準(圖2)


溫度TL、TH,及時間t1,t3取決于設(shè)備的熱容量及對產(chǎn)品要求考核的嚴酷程度,應(yīng)在有關(guān)產(chǎn)品的標準中加以規(guī)定。若無特殊需要,一般應(yīng)不低于本標準規(guī)定。


TL=-40 ℃

TH=+60 ℃

t1=t3不小于30 min

t2不小于2 min,不大于 3 min。對于自動兩箱設(shè)備, t2可以小于30 s,而且不需放在試驗室溫度下。


試驗時溫度允許偏差范圍應(yīng)在±3 ℃之內(nèi)。


試驗溫箱的容積及其空氣循環(huán)應(yīng)使設(shè)備放入后,在5 min或存放時間的10%內(nèi)(兩者取其中較小者的數(shù)值),其溫度應(yīng)保持在規(guī)定允差之內(nèi)。


經(jīng)過高﹑低溫沖擊試驗后,待設(shè)備恢復(fù)到試驗室環(huán)境溫度后進行外觀檢查及測試其電氣性能,應(yīng)符合所規(guī)定要求。


通過遵循 GB/T 10233-2016 標準,可以對低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備進行基本試驗,以驗證其在正常工作和故障情況下的性能和可靠性,確保其安全運行和符合技術(shù)要求。同時,該標準還為制造商、設(shè)計人員和使用者提供了基本試驗的方法和指導(dǎo),以保障低壓電氣設(shè)備在使用過程中的安全性和穩(wěn)定性。


文章標簽 : 國家標準

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