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存儲產(chǎn)品的高溫老化就是通過讓存儲產(chǎn)品進行高溫的工作，測試其讀寫是否正常，來評價存儲產(chǎn)品的老化性能以及使用壽命。試驗過程可以使用高溫存儲老化測試箱，下面我來看看是如何測試的。
半導(dǎo)體存儲產(chǎn)品老化測試：
試驗設(shè)備：環(huán)儀儀器 高溫存儲老化測試箱
測試原理：模擬在高溫或低溫的環(huán)境下，通過輔助控制軟件發(fā)指令，向存儲類產(chǎn)品做讀寫和比對測試，確認存儲產(chǎn)品在嚴苛的外部環(huán)境是否可以正常運作。
測試步驟：
步驟一：將樣品組裝在高溫存儲老化測試箱內(nèi)。
步驟二：通過控制器，對高溫存儲老化測試箱進行定時的升溫、降溫、恒溫控制；
步驟三：對高溫存儲老化測試箱在不同的環(huán)境溫度下發(fā)出指令，使存儲產(chǎn)品做讀或?qū)懙闹噶?，直至此測試項目完成，并回報后，服務(wù)器再發(fā)出下一個指令，并進行下一個項目的測試；
步驟四：通過編輯產(chǎn)出報告格式，自動回填各測試項目數(shù)據(jù)，通過對測試數(shù)據(jù)做邏輯判斷，自動判斷結(jié)果是PASS或是NG。
以上老化試驗需要多臺高溫存儲老化測試箱并搭配多臺測試機，才能完成存儲類產(chǎn)品在不同的高溫環(huán)境下做讀寫測試（高溫的溫度范圍是35℃~85℃，恒溫的溫度是10~20℃。）
如有高溫存儲老化測試箱的使用疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
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