高空低氣壓試驗(yàn)箱是一種用于模擬高海拔和低壓環(huán)境的設(shè)備，通常用于測(cè)試各種材料和產(chǎn)品在這些條件下的性能。由于高空低氣壓試驗(yàn)箱的應(yīng)用廣泛，因此有許多國(guó)家和地區(qū)都制定了相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)規(guī)范測(cè)試箱的設(shè)計(jì)、制造、使用和維護(hù)。

以下是一些常見(jiàn)的高空低氣壓試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)：

一、國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 2423.63-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn):溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(混合模式)綜合

GB/T 5170.10-2017 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第10部分:高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

GB/T 12085.5-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)

GB/T 11159-2010 低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 2424.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn).溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品 環(huán)境試驗(yàn).第2部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)

T/SZUAVIA 009.3-2019 多旋翼無(wú)人機(jī)系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 3 部分：低氣壓試驗(yàn)

二、國(guó)外標(biāo)準(zhǔn)：

KS C IEC 60068-2-13-2022 環(huán)境試驗(yàn).第2-13部分:試驗(yàn).試驗(yàn)M:低氣壓

NF C20-713-2021 環(huán)境試驗(yàn). 第2-13部分: 試驗(yàn)方法. M試驗(yàn): 低氣壓

IEC 60068-2-13:2021 環(huán)境測(cè)試 - 第2-13部分:測(cè)試 - 測(cè)試M:低氣壓

KS C IEC 60749-2-2020 半導(dǎo)體器件 - 機(jī)械和氣候測(cè)試方法 - 第2部分:低氣壓

KS C IEC 60068-2-39-2018 環(huán)境測(cè)試 - 第2-39部分:測(cè)試 - 測(cè)試和指導(dǎo):組合溫度或溫度和濕度低氣壓試驗(yàn)

除了上述標(biāo)準(zhǔn)外，還有許多其他國(guó)家和地區(qū)的標(biāo)準(zhǔn)也適用于高空低氣壓試驗(yàn)箱。

高空低氣壓試驗(yàn)箱是一種非常重要的測(cè)試設(shè)備，“環(huán)儀儀器”根據(jù)相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，來(lái)規(guī)范測(cè)試箱的設(shè)計(jì)、制造、使用和維護(hù)。選擇符合標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試箱可以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，并提高測(cè)試過(guò)程的效率和安全性。